CRD-高反射率測(cè)量?jī)x是一款專(zhuān)為高精度反射率測(cè)量而設(shè)計(jì)的先進(jìn)儀器。該測(cè)量?jī)x基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測(cè)量各類(lèi)樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、精密光學(xué)元件等領(lǐng)域，為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。