CRD-高反射率測量儀是一款專為高精度反射率測量而設(shè)計(jì)的先進(jìn)儀器。該測量儀基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測量各類樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、精密光學(xué)元件等領(lǐng)域，為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

測量原理

    CRD-高反射率測量儀采用光腔衰蕩法進(jìn)行測量。儀器內(nèi)部由兩片高反射鏡M1和M2組成光學(xué)諧振腔。當(dāng)一束脈沖激光沿腔體軸向入射時(shí)，忽略衍射及輻射損耗，光脈沖在兩反射鏡之間往返振蕩。探測器接收到的光脈沖信號強(qiáng)度隨時(shí)間呈指數(shù)衰減，通過精確測量信號衰減時(shí)間，結(jié)合理論計(jì)算，即可準(zhǔn)確求出待測樣品的反射率。

產(chǎn)品特點(diǎn)

（一）精準(zhǔn)測試波長

• 標(biāo)準(zhǔn)配置：儀器配備1064nm和532nm兩種常用測試波長，滿足大多數(shù)高反射率樣品的測量需求。

• 定制服務(wù)：根據(jù)用戶特定需求，提供其他波長的定制服務(wù)，確保儀器適用于各種特殊應(yīng)用場景。

（二）超寬反射率測量范圍

      測量范圍覆蓋99.9%至99.995%，能夠精確測量不同反射率的樣品，無論是高反膜還是其他精密光學(xué)元件，都能提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果。

（三）卓越測量精度

• 高精度測量：對于反射率在99.9%至99.99%之間的樣品，測量精度可達(dá)±0.01%；對于反射率高達(dá)99.99%的樣品，測量精度更是高達(dá)±0.001%，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

• 重復(fù)性與穩(wěn)定性：儀器具備優(yōu)異的重復(fù)性和穩(wěn)定性，能夠在長時(shí)間內(nèi)保持測量精度，為用戶提供穩(wěn)定可靠的測量數(shù)據(jù)。

（四）適用多種樣品規(guī)格

• 平面樣品：適用于平面樣品的測量，滿足常規(guī)光學(xué)元件的測試需求。

• 曲面樣品：對于曲率半徑為500mm的平凹樣品，儀器同樣能夠進(jìn)行精確測量，拓寬了測量范圍，滿足更多特殊樣品的測試要求。

• 尺寸適配：標(biāo)配尺寸是dia.25.4或12.7，其他尺寸可根據(jù)用戶需求定制，確保儀器能夠適應(yīng)不同尺寸的樣品測量。

（五）精良配置

• 外觀尺寸：儀器外觀尺寸為950mm×600mm×300mm（具體尺寸以實(shí)際產(chǎn)品為準(zhǔn)），設(shè)計(jì)緊湊，便于放置和操作。

• 光學(xué)元件：選用高品質(zhì)光學(xué)元件，包括聚焦透鏡、反射鏡等，確保光路的穩(wěn)定性和測量的準(zhǔn)確性。

• 高精度光學(xué)儀器：作為高精度光學(xué)儀器，建議在潔凈環(huán)境下使用，以保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。儀器安裝環(huán)境應(yīng)符合相關(guān)要求，避免灰塵、振動(dòng)等外界因素對測量結(jié)果產(chǎn)生干擾。

產(chǎn)品參數(shù)

配置說明

應(yīng)用領(lǐng)域

    CRD-高反射率測量儀主要應(yīng)用于高反膜反射率的測量，尤其適合反射率高于99.9%的樣品。在光學(xué)薄膜的研發(fā)、生產(chǎn)過程中，該測量儀能夠?yàn)楸∧さ姆瓷湫阅茉u估提供精確數(shù)據(jù)，幫助科研人員優(yōu)化薄膜制備工藝，提升薄膜性能。同時(shí)，在精密光學(xué)元件的檢測中，儀器也發(fā)揮著重要作用，確保光學(xué)元件的反射率滿足高精度光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求。

測試實(shí)例

以下是一個(gè)使用CRD-高反射率測量儀進(jìn)行的測試實(shí)例：

• 測量波長：1064nm

• 反射率測量結(jié)果：

  • M1：99.99%

  • M2：99.995%